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LORLIN Double Impact 半导体测试机

库存状态:现货

LORLIN Double Impact Network Final Test Equipment是一种先进的自动化测试系统,旨在确保组件质量和性能,适用于广泛的商业、工业、航空航天和军事应用。该单元由双端站、LORLIN测试电子设备和电源组成。双端工作站由两部分组成:一个输出-发射器和一个输入-接收器;测试序列编程在计算机工作站上执行。该机器能够模拟100多种不同的测试,包括基本电气测试、广泛的复杂性能评估以及组件开发和验证所需的特性测试。LORLIN测试电子设备具有两个强大的功能:范围设置和桥接.范围设置允许指定元件性能特性的特定测量,从而提供更高程度的元件验收测试。桥接将这些单独的测量结果连接到一个全面的测试序列中,从而可以高效地执行各种测试。然后记录测试的每个部分并将其存档以备将来参考。为测试序列供电的电源是完全自动化和可编程的。这样,即使测试区域无人值守,工具也可以保持活动状态。电源使电容元件能够快速充电和放电,可编程输出功能使各种测试条件得以满足。该资产包括一套自动化的测试排序软件,允许用户编程和执行复杂的测试序列。这样可以轻松配置多种类型的测试,并提供详细的数据分析以确定组件可靠性。软件还包括详细的调试日志记录功能,用于识别和排除潜在问题。Double Impact模型提供了组件测试的终极功能,为一系列组件提供了可靠高效的测试解决方桉。LORLIN Double Impact Final Test Equipment具有范围设置、桥接能力和自动测试排序等功能,为组件质量和性能提供了全面的方法。Double Impact Test System凭借其先进的功能和用户友好的控制和编程软件,是组件开发和验证的理想解决方桉。

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根据机器实际情况提供服务
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