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LTX-CREDENCE Sapphire NP 半导体测试机

库存状态:现货

LTX-CREDENCE蓝宝石NP是作为各种集成电路(IC)的最终测试而设计的设备。它具有先进的扫描测试方法,可以将其纳入自动测试解决方桉,以提供测试结果的最大准确性和完整性。蓝宝石NP系统提供强大的功能组合,可实现大容量测试、优化测试时间、每次测试的最低成本、卓越的故障覆盖范围以及高度可靠的结果。该单元采用传统的基于扫描的测试结构,具有一整套测试步骤和测试算法。每个扫描测试步骤都针对特定缺陷进行定制,从而优化测试的准确性和生产速度。它能够以每秒数亿次的操作生成高度可靠的测试模式。当结合用户定义的扫描测试编程,这一功能可以显着减少测试时间,提高准确性。LTX-CREDENCE蓝宝石NP机除了具有基于扫描的测试能力外,还有几个参数可用于定制测试过程。这些参数包括极限测试、触发器可扩展性、签名测试、矢量收缩控制、测试延迟减少和动态功率控制。这些自定义选项确保用户可以根据其确切的测试要求对工具进行微调。该资产还具有高度可配置的扫描体系结构,可实现强大的低容量测试。它提供自动化的并行测试插入、排序和分析。此功能允许模型将测试阵列分成多个较小的块,从而允许并行测试这些切片中的每一个。这有助于在各种配置中实现更低的测试时间和更高的准确性。总体而言,蓝宝石NP是一款先进的两用扫描测试设备,旨在提供超快的测试结果和卓越的故障覆盖。其强大的功能和基于高速扫描的体系结构使其成为任何IC测试应用程序的理想选择。由于具有先进的定制功能,该系统提供了无与伦比的多功能性,允许用户根据其精确的测试要求定制设备。

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