ADVANTEST T 5585是采用自动测试模式生成（ATPG）和先进数字测试技术的一流、高性能的最终测试设备。它用于非常快速准确地测试各种不同的器件，从半导体到基板，无论大小。ADVANTEST T5585具有强大的内存接口（MI）,能够从仪器本身的内部内存高速访问和传输测试模式和数据。此功能使系统对于测试高速存储器或大容量存储器特别有用。MI还提供内置的定时功能,使一系列高端处理器系统的高速运行测试快速高效。T 5585配备了全面而强大的数字测试体系结构（DTA），用于分析和计划各种测试，包括自动故障诊断和故障覆盖分析。DTA还包括内置的定时功能，使被测设备（DUT）和测试仪本身之间的测试数据高速流动成为可能。这对于测试一系列设备类型和级别极为有用,从应用特定集成电路（ASIC）和处理器到芯片封装和基板。T5585最强大的方面是其智能测试控制（ITC）单元,它提供可靠、高效的测试管理。ITC结合了硬件和软件功能，提供具有嵌入式用户定义功能的自动化测试序列。通过动态数据分析和自动故障诊断,实现了测试执行的灵活性.总之,ADVANTEST T 5585是一种高性能工具,非常适合测试各种设备并提供快速的结果。它具有先进的数字测试技术、高效的测试执行以及强大的硬件和软件功能,能够对任何类型的设备进行可靠和准确的测试。