ADVANTEST T 5501是一种生产规模的测试设备，用于半导体器件的最终测试。它是一个自动化系统,用于运行各种装配、测试和标记过程,包括模式读取和全局缺陷检测。T 5501可以支持从小到大的几何区域组件的产品设计,从而实现快速周转和简单的配置。ADVANTEST T 5501可以处理几种标准测试类型，如批存储器、加电测试、JTAG、串行闪存访问时间、ID/安全字段/密钥测试、EPROM/OTPROM刻录、联合测试装配和DC IV测试。此外,还可以将自定义测试配置为满足特定的客户要求。此单元还支持设备网、边界扫描、IEEE 1149.1、ACTEL RFID、精确电压和电流测量、通过/失败报告和PDX跟踪等高级功能。该机集成了先进的编程和测试方法，如多路复用、快速并行测试和子模式识别功能，以最大化吞吐量。该设备具有高精度晶片级、多样板/探头自动校准和可检测位置，提供卓越的重复性和生产率。作为一个多站点解决方桉,生产批量能够在更大的规模上共享和管理。T 5501的自动化功能使其易于集成到自动化生产系统中。它为每个测试仪配备了校准、设置和身份编程。这样可以快速周转,并且无需手动输入。全面的操作支持和分析软件包允许信息收集、审查和控制工作流。复杂的故障分析和跟踪工具使产品开发更加高效和经济高效。ADVANTEST T 5501资产旨在提高周期时间和吞吐量,同时降低成本和提高准确性。该模型具有最先进的自动化功能和集成的软硬件,适用于需要生产测试系统的众多客户。它旨在在安装和连接到各种Theta、Eta和Iota测试头和探测系统时,轻松集成到现有自动化系统中。