ADVANTEST T 2000是用于测试半导体器件的最先进的最终测试设备。它能够测试每台设备多达800针,并且能够长期提供可靠的测试性能。它具有完全集成的多站点功能,使系统能够同时控制多达8个测试单元,以最大限度地提高测试性能和生产率。该设备的高级测试功能通过其CMOS图像传感器步骤和扫描体系结构得以实现,该体系结构提供了快速的测试时间、准确性和可重复性。ADVANTEST T2000设计为工业级测试机器,具有可扩展的制造体系结构。它具有高速并行数字信号处理器（DSP）,可提供精确的测量和快速的吞吐量。该工具还包括一个容错实时测试引擎，保证在大批量生产线准确的测试结果。T 2000通过用户友好的触摸屏面板进行控制,用户可以轻松控制资产并即时调整测试。该模型内置了用于存储测试数据和测试程序的内存，使用户可以轻松回忆以前的测试和程序，或者创建新的测试和程序。该设备还配备了集成的Web服务器，使用户能够远程监控系统并实时报告测试结果。T2000采用开放体系结构设计,与其他测试设备和其他仪器兼容。该单元也具有很高的适应性，因为它可以配置多个测试套件，以提供全面的测试范围。该机还可以与其他仪器集成，如探针和热室，提供测试半导体器件的完整包装。总而言之,ADVANTEST T 2000是一种可靠且功能强大的最终测试工具,可确保在大批量生产环境中的准确性和可重复性。它具有易于使用的触摸屏、多站点功能、内置内存、远程监控以及用于定制测试套件的开放体系结构。该资产为测试所有类型的半导体器件提供了一个全面的测试包。