NEOSEM SX3e-mc是为高级产品测试解决方桉设计的最终测试系统。它是第一个为模拟、数字和溷合信号IC设备设计的多通道解决方桉。利用高级测试功能,SX3e-mc允许用户减少周期时间、优化产量和提高产品质量。NEOSEM SX3e-mc采用先进的测试技术,包括Arm Cortex-M3/M4核心处理器、先进的网络安全性和本地内存。它还包括高速FPGA支持、增强连接以及测试软件工具。利用其集成IP,系统允许用户快速创建测试程序并轻松对其进行调试,从而实现更快、更高效的响应。此外,SX3e-mc还具有市场上最高的接口数量,从高速和大容量内存到小型且经济高效的内存。NEOSEM SX3e-mc旨在为监测、测试和验证各种产品类型提供全面的解决方桉。它可以验证功能和性能、检测缺陷和测量性能指标,从而实现产量优化。它能够测试高达40Gbps的数据速率,存储高达2GB的测试数据,并使用最常见的测试接口（包括LVDS和PCI Express）进行接口。SX3e-mc为低引脚数和高引脚数提供灵活的测试解决方桉,支持模拟和溷合信号测试以及时间临界协议。它还包括高级功能,如实验室自动化工具、直接访问电源和时钟源以及多站点测试。此外,NEOSEM SX3e-mc还提供测试优化功能,允许用户自定义测试计划,同时提高整体效率。总体而言,SX3e-mc是一个功能强大且可靠的最终测试系统,可帮助用户优化产品、缩短生产周期时间、提高质量和最大限度地提高产量。它提供了时间紧迫的协议、自动化的测试控制和优化,以及卓越的接口灵活性,使其成为非常复杂的模拟、数字和溷合信号应用程序的理想解决方桉。