TERADYNE Z1850是一种高性能的最终测试设备，旨在自动测试精密微电子元件和组件。它是广泛的TERADYNE系列自动化测试设备（ATE）的一部分。该系统基于TERADYNE Automatic Test Executive （ATE）软件,该软件提供基于软件的诊断和测试功能。TERADYNE Z 1850的设计提供了广泛的内置测试功能和模式。这些内置测试提供了比使用手动方法更快速、更准确的诊断洞察力。Z1850使用自适应测试模式生成（ATPG）软件来执行物理诊断,并为不同类型的测试生成引脚映射。此功能允许在给定配置中运行最大数量的测试,并确保更快地恢复产量。Z 1850还提供了一套全面的测试相关服务，以提升单位的整体性能。这包括测试管理、故障分析服务（FAS）、测试模式库和远程测试数据检索服务。测试管理是一种高效的库组织工具,用于快速的测试计划和调度。Failure Analysis Service协助进行根本原因调查,以找出问题的根源。Test Pattern Library提供了可重复测试模式的共享库,以确保测试时间不断优化。远程测试数据检索服务非常适合在任何位置查看测试数据。TERADYNE Z1850还包括一些其他功能。其中包括优化产量增强机（OYES）软件,它使用户能够通过生成产量、周期时间和故障数据的详细报告来快速诊断组件级别的问题。该工具还具有内置信号完整性分析器,用于验证板级跟踪设计参数。该分析仪还可用于跟踪和优化测试要求。最后,TERADYNE Z 1850能够与各种第三方控制器集成。这确保了任何自动化资产都可以在现代测试环境中使用。该模型还提供了内置的诊断查看器,以实现故障状况的快速诊断。总体而言，Z1850是一种强大而全面的最终测试设备。该系统结合了高性能测试功能、基于软件的诊断、扩展的测试功能库以及远程数据检索功能,可实现快速、准确的测试结果。各种功能和服务允许最大程度的灵活性,并能够更有效地利用测试周期和资源。Z 1850是任何可靠、高精度的测试解决方桉中不可或缺的元素。