ADVANTEST T 5581 P是一种综合性的最终测试设备，设计用于生产半导体集成电路（IC）器件。该系统旨在全面测试逻辑元素及其互连,以确保每个IC在出厂前都能完全正常工作。它具有广泛的测试功能,可提供最大的灵活性。ADVANTEST T5581P利用扫描检测评估（SDE）宏策略来控制测试过程。此策略包括扫描输入信号、评估信号和故障检测。此设备将检查IC设备的所有引脚并评估信号,以确保设备符合所需的规格。SDE Macro策略允许采用快速、准确和编程的方法,以低成本和可靠的方式测试IC设备。T 5581P机器使用晶片级嵌入式核心测试和数字逻辑测试来测试各种几何形状和类型的IC。它还通过使用其先进的测试技术，为多达2600万个触发器的数字设计的生产测试提供支持。此外，该工具还支持故障彷真和故障分级功能，以及扩展晶片和背景故障独立性。显示和控制体系结构的设计提供了缺陷的精确定位。它提供内置功能,使用户能够快速隔离制造的IC设备上的故障位置。它还具有多故障测试体系结构,可执行故障诊断测试以快速准确地识别IC中的故障。T 5581 P还提供生产测试所必需的编程和控制能力。它支持测试开发周期的所有阶段，包括程序开发、测试过程优化以及IC设备表征和校准。此外,还可以创建针对特定设备类型量身定制的程序套件,并开发针对每种单独产品定制的测试。ADVANTEST T 5581P是一种自动化资产,允许最高级别的测试准确性和可重复性。它包括各种测试体系结构、工具和测试策略,以满足最苛刻的生产测试的需求。此模型可确保每个IC设备在出厂前都经过全面测试并正常工作。它是生产复杂、高性能IC的理想解决方桉。