ADVANTEST T 6575是专为最后测试而设计的高性能、计算机控制的基于CCD相机的光学检测设备。该系统配备了非常强大的光学元件、传感器和附件阵列,可用于对半导体器件、封装产品和组件的粒子、缺陷和其他特性进行卓越、快速和可重复的检测。ADVANTEST T6575利用极高灵敏度的CCD相机，使用四色直方图技术测量物体的颜色、亮度和形状。该单元还包括色彩识别功能和机载微粒监测器，使其能够检测、分类和测量相机视场中的微粒，有助于确保产品的完整性。此外，T 6575具有高速、高分辨率的测量级和激光自动对焦机，可以在不同高度进行光学检查。准确性和可重复性也是T6575的关键特征。高速块比较器允许检测到各种各样的缺陷，高分辨率液晶显示屏提供清晰的图像，便于故障检测。该工具还包括一个自动化的远场缺陷检测资产，它可以检测小到2微米的颗粒，有助于确保质量控制和提高产品效率。ADVANTEST T 6575提供了一系列出色的功能,如简单的操作、易于编程的触摸面板、高吞吐量和当今市场上可用的最高分辨率。此外，该模型与行业标准软件和缺陷分析等流程兼容，有助于减少人为错误，提高产品可靠性。总体而言,ADVANTEST T6575是一种顶级的最终测试设备,旨在提供无与伦比的准确性和可靠性。该系统先进的光学和传感器功能使其成为半导体器件、封装产品和组件测试应用程序的绝佳选择,确保了所有应用程序的卓越质量和性能。