ADVANTEST T 6672最终测试设备是一种经济高效的高通量测试解决方桉,专门用于验证复杂半导体器件的功能。该系统每秒最多可进行320巨型测试，适用于大容量和复杂的设备。测试单元由三个主要模块组成：自动测试头（ATH）、可编程逻辑控制器（PLC）和测试接口（TI）。ATH包含一个设备接口,用于连接到正在测试的设备（DUT）以及各种testhead控制、测量SMU、电源和夹具驱动程序。PLC负责控制测试设置和操作,并在C和IEC 61131-3中提供编程。它还在开发过程中提供了强大的分步调试功能,使用户能够快速排除出现的任何问题。最后，TI为其他测试设备提供了一个通用接口，如模式发生器、SCU和示波器。测试机提供了多种功能，使其能够有效地处理甚至最苛刻的应用程序。其中包括即时调整，如中期测试制度的改变；通过图形程序开发和快速访问DUT连接端口实现快速测试设置和重新配置；输出瞬态控制，确保高测试可靠性；以及测量临界参数值的精度公差检查。此外,ADVANTEST还为进一步增强T 6672提供了几种选择。其中包括用于汽车级系统的汽车级测试；用于调试和分析的嵌入式诊断；以及各种测试应用程序的综合软件包。总体而言,ADVANTEST T 6672最终测试工具是一种功能强大、用途广泛且经济实惠的解决方桉,用于验证复杂半导体器件的功能。它具有快速的测试速度、多种可配置选项和可选的软件包,是在大批量生产环境中进行测试的理想选择。