ADVANTEST T 5585是一种"最终测试"设备,它利用领先的测试技术来实现半导体器件大批量制造的快速、准确的测量。ADVANTEST T5585可以测量和评估各种设备性能参数,包括电压、电流、温度、频率、寿命、内存等。它具有多系统同步功能、高精度低噪声晶体管和特别设计的打印样品的卓越测试能力。T 5585利用FPGA资源,通过三级频率采样有效控制单元操作,提供卓越的准确性和高度灵活的用户环境。该机器包括一个先进的测试头和先进的测量工具，为半导体器件的测试和表征提供高速度和准确性。T5585测试资产利用独特的互锁模型来确保用户的安全和测试的可靠性。先进的安全功能可降低设备运行过程中的潜在风险,例如防止电击和消除对危险高压电缆的需求,而先进的互锁功能则可保护测试系统免受危险的测量。ADVANTEST T 5585提供各种测试测量参数,其所有八通道特性均可调整,以便进行自定义测量和测试。这使得在表征元件、电路操作和其他关键电气特性方面具有极大的灵活性。该单元还具有快速准确分析一块试验板上多个半导体器件的能力。这得益于其集成的数据采集机，它使工具能够快速收集广泛的数据，并以易于阅读的图形显示。此外，该资产还通过模型软件维护其测试结果和历史记录，提供了更好的可追踪性和可谴责性。ADVANTEST T5585还提供了多种用户友好工具,例如设置向导、设备分析器、DUT参数编辑器、编程监视器和多窗口显示。该器件分析仪对于快速分析和比较不同半导体器件的性能特别有用。T 5585是一种先进的最终测试设备，为测试人员提供高批量制造的高度灵活准确的测试环境。凭借强大的特性和功能，它是高端质量控制测试和自动化设备分析的理想系统。