ADVANTEST T 5371是一种自动化设备，用于生产芯片或其他晶圆级元件的最终测试。它旨在对所有电路参数进行全自动、高速和可靠的测量。该系统由主机控制器、外部输入/输出接口、晶片级、prober、单元和机器资源以及两个光学显微镜组成。主机控制器基于功能强大的嵌入式PC机，配有19英寸彩色显示器和触感液晶显示屏。它可用于控制工具、组织数据输入和存储以及与其他设备通信。它还支持通过串行或USB连接进行远程控制。外部输入/输出接口连接到prober和放大镜。输入和输出包括模拟、数字和视频信号。这样可以测量各种参数,例如电压、电流、功耗、信号完整性、负载和延迟,以及视频播放和数字图像分析。晶片级是一种电动设备，用于在测试过程中固定晶片和其他组件。它可以被编程为水平和垂直方向移动晶圆和组件。这使得prober能够访问晶片上需要进行测试的确切点。Prober是一个自动化机械臂，有多个头连接到晶圆。Prober配备了集成视觉资产,用于定位要测试的组件并将其精确连接到模型。设备资源提供测试结果。其中包括频谱分析仪、示波器、频率计数器和逻辑分析仪等多种仪器。它们可以用来测量信号和功率，分析噪声，测试波形，检查逻辑关系。这两个光学显微镜用于光学检查。它们可提供高达10倍和20倍的放大倍率,从而能够准确识别和测量组件。ADVANTEST T5371提供了所有系统组件的集成操作,允许对大量组件进行自动化测试。这样可以提高测试效率和准确性。它还具有先进的数据分析技术，能够在最终测试之前检测和纠正组件中的问题。