WANFUDA WFD1705/1805最终测试设备是一种先进的非易失性内存测试工具,旨在确保大型NAND产品在各种应用中的质量和可靠性。WFD1705和WFD1805都是第三代测试系统,采用最新的行业标准测试技术,包括3 D单元映射、闪存编程、回读、写/读操作、背景比较和闪存验证。WFD1705/1805系统提供测试前和测试后数据分析功能,以及闪存布局和生产测试。WFD1705系统具有完整的3D NAND单元格级映射功能，具有增强的映射精度，并具有最新的三层单元格映射技术。此功能使开发人员能够快速准确地检测和隔离内存芯片上的任何潜在制造缺陷和弱点,从而能够在产品出货前纠正任何问题。WFD1705单元具有FlashProcessOperation（柔性3FO功能）功能,允许使用单个命令同时执行多个并发读写操作。这提供了更快的测试时间，同时也消除了多个手动命令，从而提高了效率。使用3FO函数,两个读/写命令将同时开始,并且可以单独执行。WFD1705机器还具有开机编程和写/读操作功能。这样就可以将预先编程的数据一次生成到多个NAND芯片中,所有操作都是手动操作的。此功能大大缩短了编程时间,从而实现了更快的生产输出。WFD1805工具是经过改进和升级的版本，旨在为用户提供改进的资产性能。显着的增强功能包括提高闪存验证速度、增强功能支持、提高测试效率以及增加用户定义的参数和功能。此模型还包括前后单元测试和验证,这意味着用户可以在生产前比较新的和以前制造的NAND芯片的各种布局。总体而言,WANFUDA WFD1705/1805最终测试设备是一种先进可靠的工具,用于确保各种设备中使用的内存芯片的数据完整性。凭借先进的3D NAND单元格级映射技术和灵活的性能选项,制造商可以快速准确地检测内存芯片中的任何潜在错误并加以纠正。再者，系统也因其开机编程和写/读操作而允许更快的生产输出。WFD1705/1805 Final Test Unit具有可靠的性能和先进的功能,是希望确保产品质量和可靠性达到最高水平的制造商的完美解决方桉。