深圳AITEXUN ITC-ST212最终测试设备是一种先进的半导体测试系统，可用于测试集成电路（IC）。该单元基于最新AITEXUN-L45的ITC平台，意味着它具有强大可靠的硬件性能，能够在高端半导体IC领域进行快速测试、高精度数据排序和准确记录。该机支持与IC常用的多种类型的探测工具，包括插座、弹簧探针、弹簧销和垂直探针。它提供同时或独立的测试,包括晶圆、封装和探针加载设备。该工具有一个大型IC库，允许用户快速加载程序并测试来自多个供应商和产品系列的IC。该资产的核心基于最新版本的Trim Test模型打包软件，具有编程、夹具设置、信号参数和其他设置，允许在测试中进行追溯和灵活性。可用于检测电容、电阻、电压等信号线路参数。例如，它可以检测IC引脚电平是否正常，信号线是否打开，直流电压是否在公差范围内，信号瞬变是否在要求的规格范围内。这些特点提高了测试结果的准确性。此外，设备还内置故障诊断功能，可用于快速识别测试点接触不良、针脚断裂等异常。系统还可以检测输入/输出信号幅度和阻抗等多种参数的偏差。此外,它还支持手动、自动和FPGA编程,使数据管理和测试过程更加高效。最后,该单元配备了关键的安全保护装置,确保了高可靠性和稳定性.这包括用于短路/开路的独立锁、用于DUT电源和信号的安全开关、实时温度监控以及电流和损坏监控。这些特性使其成为高端半导体测试应用的理想解决方桉。