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YOKOGAWA ST 67LMF 半导体测试机

库存状态:现货

YOKOGAWA ST 67LMF是一种先进的最终测试设备,用于集成电路和基于模块的封装。它由一个自动测试站、一个探头和一个动态个性装置卡组成。自动化测试站控制测试过程,并配有多个探测提示、输入/输出接口和专用测试控制器。探头采用集成测试头,配备高精度探头,包括内部信号发生器。动态人格装置卡包含多个集成电路人格存储寄存器,可用于存储电路配置和参数。ST 67LMF可以测试一系列软件包,包括最多45个联系人的小型软件包(TQFP等),以及最多400个联系人的大型软件包(BGA等等)。其高速探测和高分辨率数据采集系统能够在纳秒内进行扫描和测量。系统还可以执行广泛的测试功能,如耗电、泄漏、瞬态测试等等。YOKOGAWA ST 67LMF具有用户友好的功能,便于测试操作。其直观的人机界面具有屏幕监视器和直观的菜单驱动命令,允许用户快速准确地设置测试。该单元还具有内置程序,允许用户轻松编程一系列测试。此外,ST 67LMF设计既可靠又耐用。它具有卓越的长期稳定性,确保其准确性在其整个生命周期中得到维护。它还装有自动清洁机,防止灰尘积聚和损害其性能。总体而言,YOKOGAWA ST 67LMF是集成电路和基于模块的封装的高级最终测试工具。它高效的测试过程、直观的用户界面和卓越的可靠性使其成为电子行业测试操作的理想选择。

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