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TERADYNE A360 半导体测试机

库存状态:现货

TERADYNE A360是一种高性能的最终测试设备,设计用于片上系统(SoC)设备的自动测试。TERADYNE A 360单元提供了高度精确的测试程序,并且可以集成各种来源的数据以查明机器级别和芯片级别的缺陷。它还可以提供可定制的报告和分析功能,以快速识别和解决缺陷。A360工具是基于最新的SoC技术构建的全面而强大的测试平台。它可以为各种接触器、板和其他组件提供高密度设备。它由多个模块组成,包括;VXI主机、I200总线通信、多路复用器、负载板、接触器和测试卡。此外,360测试资产还具有一个仪表总线,可实现测试卡与其他组件之间的实时通信。TERADYNE A360测试平台还包括许多创新功能,可实现高速、准确的测试。这包括定制设计的高分辨率、高速ADC转换器;机载IC测试仪,无需外部测试仪;以及高精度的可编程热环境,以确保在各种温度范围内对设备进行可靠的测试。这个测试平台还有一个集成的内置捕获缓冲机制,有助于避免在高速场景中出现错误的测试结果。TERADYNE A 360配备了GATE等多种专用软件工具,用于复杂的测试场景;用于管理测试数据的BDATA;以及用于在线访问测试程序的Workplace Desktop (WPD)。A360的高级诊断还提供了测试结果的详细分析,以识别故障和调查故障的IC。此外,它的高级分析功能为用户提供了针对各种功率和定时条件的信号行为的准确分析。对于为其最关键的SoC设备寻找可靠、功能强大的测试平台的公司来说,360机型是理想的选择。其全面的功能集、可定制的报告功能和高级诊断为在生产和实验室环境中自动测试SoC设备提供了全面的解决方桉。它提供了一个强大、准确和可靠的最终测试设备,可以确保质量保证和最大的生产率。

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