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爱德万 ADVANTEST T 6671E 半导体自动探针台测试系统

库存状态:现货

爱德万 ADVANTEST T 6671E用途:适用于半导体测试领域,可对功率半导体器件(如 IGBT、MOSFET 等)进行电参数测试,广泛应用于汽车电子、工业控制等行业的器件质量检测环节。性能:测试电压范围 0-1500V,测试电流 0-200A,测量精度 ±0.5%。支持脉冲测试模式,脉冲宽度 10μs-10ms,测试通道数 6 个。配备高速数据采集系统,采样率 1MS/s,响应时间≤100μs,可高效完成功率器件的耐压、导通特性等参数检测。

英文Product Name: ADVANTEST T 6671EPurpose: It is applicable to the field of semiconductor testing, capable of electrical parameter testing of power semiconductor devices (such as IGBT, MOSFET, etc.), and widely used in device quality inspection links of automotive electronics, industrial control and other industries.Performance: The test voltage range is 0-1500V, test current is 0-200A, with measurement accuracy of ±0.5%. It supports pulse test mode, with pulse width of 10μs-10ms and 6 test channels. Equipped with a high-speed data acquisition system, the sampling rate is 1MS/s, response time is ≤100μs, enabling efficient completion of parameter detection such as withstand voltage and conduction characteristics of power devices.

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