日本理学 RIGAKU XRF ZSX Primus II用途：为波长色散型 X 射线荧光光谱仪，适用于地质、冶金、材料等领域，用于元素定性与定量分析，可检测矿石成分、合金元素含量，助力科研分析与生产质量控制。技术原理：基于 X 射线荧光技术，X 射线激发样品产生特征荧光，经晶体分光后，探测器检测特定波长荧光强度，结合理论计算确定元素种类及含量。性能：检测元素范围从铍（Be）至铀（U）；检出限低至 0.00