INDUSTRY NEWS

行业新闻
二手日立 HITACHI H-9500 透射电子显微镜技术规格详解
日立HITACHI H-9500属于高分辨环境透射电子显微镜(Transmission Electro...
2026-06-10
二手汉民微测 HMI HERMES MICROVISION eScan 320 半导体掩模检测系统技术规格详解
汉民微测 eScan 320 是面向32nm 制程的半导体掩模(Photomask)缺陷检测系统,核心...
2026-06-09
二手东京电子 TEL/TOKYO ELECTRON Vigus 真空镀膜机技术规格详解
东京电子TEL Vigus为商用级PVD真空镀膜设备(Physical Vapor Depositio...
2026-06-09
二手蔡司 ZEISS ELYRA PS.1 共聚焦显微镜技术规格详解
蔡司ZEISS ELYRA PS.1为集成共聚焦显微(Confocal Microscopy)与结构光...
2026-06-09
二手APPLIED MATERIALS 0195-01314 PVD用加热盘技术规格详解
APPLIED MATERIALS(应用材料)0195-01314 为 PVD(Physical Va...
2026-06-09
二手泛林 LAM RESEARCH 2300 KIYO 刻蚀机腔体技术规格详解
泛林LAM RESEARCH 2300 KIYO刻蚀机腔体为300mm(12英寸)晶圆等离子体刻蚀(P...
2026-06-08
二手阿斯麦 ASML eScan 430 多束电子束检验系统技术规格详解
ASML eScan 430(HMI eScan 430)是面向 3D NAND、先进 DRAM 及 ...
2026-06-08
二手科磊KLA-TENCOR eDR-5210S Review 电子束缺陷复检测试技术规格详解
eDR-5210S 为 KLA 原厂 2010 年发布的 SEM(扫描电子显微镜)型缺陷复检设备,主打...
2026-06-05
二手科磊 KLA-TENCOR eDR-5210S Review 电子束缺陷复检测试技术规格详解
本文参数取自 KLA 2010 年官方产品公告、CAE 设备公开招标资料,仅用于技术交流,不作商业用途...
2026-06-05
二手应用材料 AMAT/APPLIED MATERIALS SEMVision G3 LITE 扫描电子显微镜(SEM)技术规格详解
SEMVision G3 LITE 属于 Defect Review SEM(缺陷复检型扫描电镜),适...
2026-06-05
二手阿斯麦 ASML eScan 310 晶圆检测电子扫描仪技术规格详解
合规声明:本文设备参数取自 ASML 官方产品档案与国内半导体设备公开招标公示资料,内容仅用于行业技术...
2026-06-05
二手科磊 KLA-TENCOR eDR-5210S Review 电子束缺陷复检测试技术规格详解
本文参数取自 KLA 2010 年官方产品公告、CAE 设备公开招标资料,仅用于技术交流,不作商业用途...
2026-06-05
内卷加剧钱难赚:海翔科技二手半导体整机凭何成企业破局王牌?
一、引言近年来,半导体行业竞争愈发激烈,内卷现象日益严重。企业为争夺有限的市场份额,陷入产品同质化竞争...
2026-03-04
内卷加剧钱难赚:海翔科技二手半导体整机凭何成企业破局王牌?
一、引言近年来,半导体行业竞争愈发激烈,内卷现象日益严重。企业为争夺有限的市场份额,陷入产品同质化竞争...
2026-03-04
从生存到破局:海翔科技二手半导体整机的通缩时期制胜方法论
一、引言通缩作为经济发展的“隐忧”,正深刻影响着半导体行业。在通缩环境下,半导体产品价格持续下跌,市场...
2025-11-19
消费降级浪潮下:海翔科技二手半导体整机如何让企业 “花小钱办大事”?
一、引言消费降级浪潮使得半导体行业下游需求发生显著变化,客户对产品价格敏感度大幅提升,企业营收增长受限...
2025-11-17