测量方案 - 海翔科技有限公司

测量方案

二手SHIMADZU EPMA-17...

SHIMADZU EPMA-1720电子探针显微分析仪（Electron Probe Micro A...

2026-06-11

二手日本电子 JEOL JEM-14...

摘要：JEOL JEM-1400为商用透射电子显微镜（Transmission Electron M...

2026-06-10

二手日立 HITACHI S-480...

二手日立HITACHI S-4800为高性能冷场发射扫描电子显微镜（Cold Field Emiss...

2026-06-10

二手CHALLENTECH OB-8...

CHALLENTECH OB-8FE (ARQ300) 为半导体行业专用半流体包装设备，适配光刻胶 ...

2026-06-10

二手日立 HITACHI H-950...

日立HITACHI H-9500属于高分辨环境透射电子显微镜（Transmission Electr...

2026-06-10

二手汉民微测 HMI HERMES ...

汉民微测 eScan 320 是面向32nm 制程的半导体掩模（Photomask）缺陷检测系统，核...

2026-06-09

二手东京电子 TEL/TOKYO E...

东京电子TEL Vigus为商用级PVD真空镀膜设备（Physical Vapor Depositi...

2026-06-09

二手蔡司 ZEISS ELYRA P...

蔡司ZEISS ELYRA PS.1为集成共聚焦显微（Confocal Microscopy）与结构...

2026-06-09

二手APPLIED MATERIAL...

APPLIED MATERIALS（应用材料）0195-01314 为 PVD（Physical V...

2026-06-09

二手泛林 LAM RESEARCH ...

泛林LAM RESEARCH 2300 KIYO刻蚀机腔体为300mm（12英寸）晶圆等离子体刻蚀（...

2026-06-08

二手阿斯麦 ASML eScan 4...

ASML eScan 430（HMI eScan 430）是面向 3D NAND、先进 DRAM 及...

2026-06-08

二手科磊KLA-TENCOR eDR...

eDR-5210S 为 KLA 原厂 2010 年发布的 SEM（扫描电子显微镜）型缺陷复检设备，主...

2026-06-05

二手科磊 KLA-TENCOR eD...

本文参数取自 KLA 2010 年官方产品公告、CAE 设备公开招标资料，仅用于技术交流，不作商业用...

2026-06-05

二手应用材料 AMAT/APPLIE...

SEMVision G3 LITE 属于 Defect Review SEM（缺陷复检型扫描电镜），...

2026-06-05

二手阿斯麦 ASML eScan 3...

合规声明：本文设备参数取自 ASML 官方产品档案与国内半导体设备公开招标公示资料，内容仅用于行业技...

2026-06-05

二手科磊 KLA-TENCOR eD...

本文参数取自 KLA 2010 年官方产品公告、CAE 设备公开招标资料，仅用于技术交流，不作商业用...

2026-06-05