INDUSTRY NEWS

行业新闻
二手尼康 NIKON VMR-6555 影像测量仪技术规格详解
尼康 NIKON VMR-6555 属于 NEXIV 系列 CNC Video Measuring ...
2026-07-25
二手尼康ECLIPSE L200N晶圆检测显微镜技术规格详解
本机型为面向 200mm Wafer 检测的正置工业金相显微镜,搭载 CFI60-2 无限远光学系统...
2026-07-24
二手基恩士 KEYENCE VR-3200 3D 轮廓测量仪技术规格详解
基恩士KEYENCE VR-3200 3D轮廓测量仪(3D Profiler)是半导体精密形貌检测(...
2026-07-24
二手THERMALTRONIC PM2 热处理炉技术规格详解
本款 THERMALTRONIC PM2 属于 Semiconductor PCBA Thermal...
2026-07-23
二手DAGE DAGE-SERIES-4000HS 推拉力测试机技术规格详解
DAGE-SERIES-4000HS推拉力测试机(Bond Pull & Shear Tes...
2026-07-23
二手应用材料AMAT/0090-07800 REV03控制柜技术规格详解
本控制柜适配 AMAT GT 载台系统,搭载 Compact PCI 总线架构,标配 MKS CDN...
2026-07-23
二手应用材料 AMAT/APPLIED MATERIALS 0190-70399 晶圆搬运机技术规格详解
0190-70399 属于 APPLIED MATERIALS(AMAT)平台配套 Wafer Ha...
2026-07-22
二手泛林 LAM RESEARCH PN660-300316R007 射频电源技术规格详解
本款 PN660-300316R007 为 Semiconductor Etch Chamber 半...
2026-07-21
二手马扎克 MAZAK INTEGREX 400Y 多轴数控车床技术规格详解
MAZAK INTEGREX 400Y为半导体精密零部件加工专用Multi-axis CNC Lat...
2026-07-21
二手鲁道夫 RUDOLPH NSx-105 晶圆缺陷检测设备技术规格详解
RUDOLPH NSx-105 为 Wafer/Mask Macro Defect Inspecti...
2026-07-21
二手尼康 NIKON OPTISTATION-3000 晶圆缺陷检测设备技术规格详解
本款 NIKON OPTISTATION-3000 属于 Wafer Visual Inspecti...
2026-07-20
二手泛林晶圆搬运机器人技术规格详解
摘要:泛林 LAM RESEARCH 853-226962-002 为半导体制程专用Wafer Tr...
2026-07-20
二手蔡司 ZEISS LSM 510 META 激光共聚焦显微镜技术规格详解
ZEISS LSM 510 META 激光共聚焦显微镜(Laser Scanning Confoca...
2026-07-20
二手电子科学 ESCO TDS1200II 热解吸分析仪技术规格详解
本设备为红外加热型升温脱附质谱仪(Infrared Heating Temperature-Prog...
2026-07-20
二手布鲁克斯 BROOKS 1-0125 ATR-8 晶圆搬运机械手臂技术规格详解
本款 1-0125 ATR-8 为 Atmospheric Transfer Robot 大气式晶圆...
2026-07-17
二手DAGE XD7600NT X光检测系统技术规格详解
DAGE XD7600NT为半导体行业专用X-ray检测设备,适配BGA(球栅阵列)、CSP(芯片尺...
2026-07-17