INDUSTRY NEWS

行业新闻
二手基恩士 KEYENCE VR-3200 3D 轮廓测量仪技术规格详解
二手基恩士 KEYENCE VR-3...
基恩士KEYENCE VR-3200 3D轮廓测量仪（3D Profiler）是半导体精密形貌检测（S...
2026-07-24
二手THERMALTRONIC PM2 热处理炉技术规格详解
二手THERMALTRONIC PM...
本款 THERMALTRONIC PM2 属于 Semiconductor PCBA Thermal ...
2026-07-23
二手DAGE DAGE-SERIES-4000HS 推拉力测试机技术规格详解
二手DAGE DAGE-SERIES...
DAGE-SERIES-4000HS推拉力测试机（Bond Pull & Shear Test...
2026-07-23
二手应用材料AMAT/0090-07800 REV03控制柜技术规格详解
二手应用材料AMAT/0090-07...
本控制柜适配 AMAT GT 载台系统，搭载 Compact PCI 总线架构，标配 MKS CDN4...
2026-07-23
二手应用材料 AMAT/APPLIED MATERIALS 0190-70399 晶圆搬运机技术规格详解
二手应用材料 AMAT/APPLIE...
0190-70399 属于 APPLIED MATERIALS（AMAT）平台配套 Wafer Han...
2026-07-22
二手泛林 LAM RESEARCH PN660-300316R007 射频电源技术规格详解
二手泛林 LAM RESEARCH ...
本款 PN660-300316R007 为 Semiconductor Etch Chamber 半导...
2026-07-21
二手马扎克 MAZAK INTEGREX 400Y 多轴数控车床技术规格详解
二手马扎克 MAZAK INTEGR...
MAZAK INTEGREX 400Y为半导体精密零部件加工专用Multi-axis CNC Lath...
2026-07-21
二手鲁道夫 RUDOLPH NSx-105 晶圆缺陷检测设备技术规格详解
二手鲁道夫 RUDOLPH NSx-...
RUDOLPH NSx-105 为 Wafer/Mask Macro Defect Inspectio...
2026-07-21
二手尼康 NIKON OPTISTATION-3000 晶圆缺陷检测设备技术规格详解
二手尼康 NIKON OPTISTA...
本款 NIKON OPTISTATION-3000 属于 Wafer Visual Inspectio...
2026-07-20
二手泛林晶圆搬运机器人技术规格详解
二手泛林晶圆搬运机器人技术规格详解
摘要：泛林 LAM RESEARCH 853-226962-002 为半导体制程专用Wafer Tra...
2026-07-20
二手蔡司 ZEISS LSM 510 META 激光共聚焦显微镜技术规格详解
二手蔡司 ZEISS LSM 510...
ZEISS LSM 510 META 激光共聚焦显微镜（Laser Scanning Confocal...
2026-07-20
二手电子科学 ESCO TDS1200II 热解吸分析仪技术规格详解
二手电子科学 ESCO TDS120...
本设备为红外加热型升温脱附质谱仪（Infrared Heating Temperature-Progr...
2026-07-20
二手布鲁克斯 BROOKS 1-0125 ATR-8 晶圆搬运机械手臂技术规格详解
二手布鲁克斯 BROOKS 1-01...
本款 1-0125 ATR-8 为 Atmospheric Transfer Robot 大气式晶圆传...
2026-07-17
二手DAGE XD7600NT X光检测系统技术规格详解
二手DAGE XD7600NT X光...
DAGE XD7600NT为半导体行业专用X-ray检测设备，适配BGA（球栅阵列）、CSP（芯片尺寸...
2026-07-17
二手 SHIMADZU AXIMA-TOF 质谱仪技术规格详解
二手 SHIMADZU AXIMA-...
本机为 MALDI-TOF（Matrix-Assisted Laser Desorption/Ioni...
2026-07-17
二手SHIMADZU光谱仪技术规格详解
二手SHIMADZU光谱仪技术规格详...
SHIMADZU PDA-7000为半导体行业专用光电发射光谱仪（Optical Emission S...
2026-07-17